立达云端 AOI 自动光学检测设备
您正在寻找优质的机器视觉解决方案吗？立达软体科技提供各种机器视觉软硬体解决方案及客制化机台，支援最新人工智慧演算法及大数据分析。
立达软体科技成功开发云端自动光学检测 (cloud-based AOI) 设备，私有云边缘运算架构，可应用於半导体晶圆丶封测丶 IC 晶片，以及其他产业的品质检测。
- 采用高速摄影机及独家即时控制技术，可於机器手臂运动中取像，检测速度 ( UPH ) 较其他机种快两倍以上。
- 采用独家云端运算技术，运算能力强，检测效果 ( underkill rate and overkill rate ) 较其他机种好。
- 采用独家巨量资料处理技术，即时分析良率变化，找出原因。
推出以下 AOI 机种（点击名称，可连结到各 AOI 机台及模组介绍）：
LEADERG A8 for YAMADA Trim & Form System
LEADERG A9 for Wafer Cassette (FOSB)
LEADERG Cloud-Based AI AOI Architecture
立达软体科技於 2015 SEMICON 半导体展，发表「云端 AOI 自动光学检测检测设备」。 （HD 720P）
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