立达云端 AOI 自动光学检测设备

您正在寻找优质的机器视觉解决方案吗?立达软体科技提供各种机器视觉软硬体解决方案及客制化机台,支援最新人工智慧演算法及大数据分析。

 

立达软体科技成功开发云端自动光学检测 (cloud-based AOI) 设备,私有云边缘运算架构,可应用於半导体晶圆丶封测丶 IC 晶片,以及其他产业的品质检测。

 

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  • 采用高速摄影机及独家即时控制技术,可於机器手臂运动中取像,检测速度 ( UPH ) 较其他机种快两倍以上。

 

  • 采用独家云端运算技术,运算能力强,检测效果 ( underkill rate and overkill rate ) 较其他机种好。

 

  • 采用独家巨量资料处理技术,即时分析良率变化,找出原因。

 

 

推出以下 AOI 机种(点击名称,可连结到各 AOI 机台及模组介绍):

 

LEADERG A0 桌上型检查机

 

LEADERG A1 for Final Visual

 

LEADERG A2 for Die Saw

 

LEADERG A3 for Die Bond 

 

LEADERG A4 for Molding

 

LEADERG A5 for Marking

 

LEADERG A6 for SAT

 

LEADERG A8 for YAMADA Trim & Form System

 

LEADERG A9 for Wafer Cassette (FOSB) 

 

LEADERG A15 for MEMS

 

LEADERG A16 铜箔检测机 (AI Ready)

 

 

 

 

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LEADERG Cloud-Based AI AOI Architecture (Powerd by Dell EMC)

 

 

 

立达软体科技於 2015 SEMICON 半导体展,发表「云端 AOI 自动光学检测检测设备」。 (HD 720P)

 

 

如果您对 AOI 机台及模组有兴趣,欢迎与我们联络。

 

 

联络电话: 02-2784-9788

 

电子邮件: leaderg@leaderg.com

 

 

 


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