LEADERG A1 - IC 外观 AOI 检测机

您正在寻找高速且准确的 AOI 机台给合检区使用吗?您正为了人工误判丶检测速度慢丶瑕疵品客诉而烦恼吗? LEADERG A1 是您的最佳选择! :)

 

LEADERG A1 for Final Visual 白底實照.png

 

 

 

 

 

制程任务:

 

最终外观目验(Final Visual Inspection, FVI),是封测 IC 出货前品质的最後一道防线。

 

立达 LEADERG A1 for Final Visual 自动化机台可以为您的产品做外观瑕疵上的最後把关,并提供高效率丶高精度的良率变化分析。

 

 

 

过去您仅有的选择:

 

1.  采人工目视检测:

 

-  人眼辨识能力有限,长久作业且易产生视觉疲劳

-  作业员主观认定瑕疵与否,差异性高

-  漏判(underkill)机率高

-  耗费大量人力丶时间丶管理与金钱成本

 

2.  采用其他自动光学 AOI 系统检测:

 

-  进口机台售价高昂,机台保养丶维修旷日费时

-  售後服务有限,当厂内需求变更,无法就进行「即时丶机动」调整

-  不一定能达成检测速度丶良率要求

 

 

 

 

立达云端自动光学检测(Cloud-based AOI)机台

LEADERG A1 for Final Visual 

给您的优势保证

 

 

LEADERG A1 for Final Visual-1.jpg

 

 

 

1. 在地「软硬体整合」设计,紧扣您的生产脉动:

 

.「在地化」客制服务:可配合您生产线上的独特需求,由本地工程师进行调机丶试机丶改机等客制化服务,服务零时差。

 

.「一条龙」设计:软硬体统合规划,帮您把成本花在刀口上;软体可依需求即时更新,高品质硬体零件在地取得,机动性高。

 

 

2. 精心打造硬体机构,在地的价格,进口的品质:

 

.通体「不锈钢」高工艺机壳:延长机台使用年限,为您节省维修成本。

 

.「多点指示」:可「同时」指出多个瑕疵部位,效益加倍。

 
 

3. 三大独门技术,颠覆业界现有标准:

 

.独家「云端运算」科技:高效软体演算法+云端运算技术,运算能力强,检错率低(underkill rate)丶误判率(overkill rate)低,检测效果优於业界标准!

 

独家「即时控制」技术:采用高速摄影机,可於机器手臂运动中取像,检测速度(UPH)大跃进!

 

.独家「巨量资料处理」技术:可「即时」分析产品良率变化,帮您找出生产线上问题症结!

 

 

 

精准丶迅捷丶性价比破表!

最经济的成本,为您达成最高的效益!

选择立达,绩效立达!

 
 

 

 

 

LEADERG A1 for Final Visual 操作畫面.png

 

(LEADERG A1 for Final Visual 机台,操作画面)

 

 

 

 

LEADERG A1 for Final Visual 圖表顯示.png

 

(LEADERG A1 for Final Visual 机台,良率分析功能)

 

 
 

 

LEADERG Cloud-based AOI Architecture-1.png

 

(立达云端光学检测 AOI 机台,云端运算技术)

 

 

 

检测项目:

 

Wire Exposure 露金线/锡渣
Void 气洞
Scratch 刮痕
Contamination 污染
Crack 裂痕
Chip Out 崩缺
Reversed IC IC 反向
Foreign Material 异物残留
Transfer Mark 转印痕
Abnormal Pin 1 Hole Pin 1 孔异常
End Flash 胶膜残留
Lead Bent 脚歪
Lead Length 脚长短
Lead Width 脚宽
Lead Total Range 脚全距
Lead Broken 断脚
Lead Foreign 脚异物
Lead Shoulder 无肩膀
Incomplete Cut 去结未断
Mold Flash 导脚溢胶
Mark Shift X 印字偏移 X
Mark Shift Y 印字偏移 Y
Mark Brightness 印字明暗
Mark Broken Letter 印字缺划
Nozzle Mark 吸嘴印
Claw Mark 猫爪痕
Invalid 失效

 

 

诚挚欢迎您与我们联络,让我们为您服务,

量身打造高品质的新一代自动化生产线检测系统!  

 

 


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