LEADERG AI Cluster 人工智能丛集服务器 (可以同时使用 NVIDIA GPU, Intel VPU, Intel CPU 以及其他运算加速装置)
可以同时使用 NVIDIA GPU, Intel VPU, Intel CPU 以及其他运算加速装置。

LEADERG A23 - AI AOI 二次分析解决方案
透过 OpenR8 AI 图控软体及深度学习专用电脑,大幅降低原有机台误判率。针对复杂影像,误放率 (under kill rate) 最低可以降至 0 %,误杀率 (over kill rate) 最低可以降至 0.2 %以下。

LEADERG A1 - IC 外观 AOI 检测机
应用於半导体制程品质检测的「最终外观目验(Final Visual Inspection, FVI)」,为您进行 IC 封测出货前外观瑕疵上的最後把关,作为品质良率的最後一道防线。

LEADERG A16 - 2017年业界第一台 AI Ready 高速 AOI 检测机 (铜箔黏纸检查)
AI Ready 高速 AOI 检测机,配备高解析度显微镜丶高精度大面积真空吸盘,透过深度学习运算技术,检测速度及正确率超过一般作业员。

LEADERG A20 - 深度学习影像分析解决方案
解析度及速度为 1920x1080@30fps 。本解决方案可应用於:电视新闻即时分析丶生产线即时瑕疵检测丶即时门禁监视系统丶先进驾驶辅助系统及自动驾驶车。

LEADERG A21 - 桌上型 AI AOI 解决方案
桌上型 AI AOI ,省空间,显微镜倍率40X~800X,可搭配多种光源。深度学习影像分析,零误放率丶超低误杀率丶一秒检测30张以上的影像。

LEADERG A6 - SAT 超音波影像分析伺服器
应用於半导体制程品质检测的「超音波扫描(SAT)检测」阶段,为您把关可能会出现在 IC 封胶内部不同位置的脱层(Delamination)丶裂缝(Crack)丶气洞(Void)及其他黏着缺陷,并以云端运算技术大幅提升 SAT 机台分析效能。

LEADERG A5 - IC 印字 AOI 检查机
应用於晶圆丶 IC 晶片丶其他半导体制程的「印字或盖印(Marking)检测」阶段,为您进行印制之字体出现印制不清丶缺字丶掉漆丶笔画断线等问题的精确把关。

LEADERG A8 - 生产机台 AOI 模组
应用於半导体制程品质检测的「剪切成型(Trim/Form)检测」阶段,为您进行弯压成形之 IC 导脚出现胶体大小不一丶冲切不对称丶脚数或脚弯有落差丶外引脚损伤等问题的精确把关。
